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电子探针(EPMA)

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电子探针(EPMA)

满意度: 99%

仪器型号:

日本-JEOL-JXA-8530F,日本-SHIMADZU-EPMA-8050G,日本-JEOL-JXA-iHP200F,日本-JEOL-JXA-8230

日本-JEOL-JXA-8530F,日本-SHIMADZU-EPMA-8050G,日本-JEOL-JXA-iHP200F,日本-JEOL-JXA-8230

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项目推荐

云现场-电子探针(EPMA)

已下单611| 满意度100%

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云现场-电子探针(EPMA)

主要对试样微区的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描(得到成分分布信息)、面扫描(得到成分面分布图像);测试元素Be~U。相对EDS,检测限更低,有标测试,对于轻元素、微量元素测试精度更高;

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

350/h起

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

已下单46708| 满意度100%

平均周期6.5个工作日

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

    扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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常见问题

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1. 样品要求长宽或直径不超过30mm,厚度不超过15mm无法测试粉末样品;

2. 特别注意:样品上下表面平行,测试面务必抛光;不导电样品需要喷金或喷碳;最好标记好分析面上的测试点,未标记测试位置,测试时只选有代表性、较平整位置测试;适用于轻元素含量测试,线扫和mapping无含量结果,其中点扫为半定量结果;无法测试强磁样品

3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问


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项目介绍

主要对试样微区的化学组成进行定性或定量分析。可以进行点、线扫描(得到成分分布信息)、面扫描(得到成分面分布图像);测试元素Be~U。相对EDS,检测限更低,有标测试,对于轻元素、微量元素测试精度更高;

样品要求

块体样品:长宽或直径不超过30mm,厚度不超过15mm;样品需上下表面平行,测试面务必抛光;不导电样品需要喷金或喷碳;最好标记好分析面上的测试点,未标记测试位置,测试时只选有代表性、较平整位置测试。

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常见问题
EPMA成分分析属于能谱还是波谱?

EPMA中成分分析是波谱;

EPMA在形貌和成分分析上,与SEM有哪些区别?

电子探针(EPMA)具有显微形貌观察和成分分析的功能,与SEM+EDS相比,电子探针更侧重成分分析。电子探针因出色的微区元素分析能力,特别是对于轻元素如C、N、O以及过渡金属元素的分析,被广泛应用于材料质量解析、失效分析及热处理工艺等研究。

EPMA中线扫、mapping是如何进行定量的?

一般来说,需要选定几个点进行点扫标定,根据标定结果,确定线扫、mapping区域的元素含量;

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