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低分辨质谱(MS)

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低分辨质谱(MS)

满意度: 99%

仪器型号:

美国-Thermo Fisher-Q Exactive

美国-Thermo Fisher-Q Exactive

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基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱(MALDI-TOF-MS)

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飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

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飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段,具有质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等领域,可以提供EDX、AES、XPS等技术无法提供的元素信息。

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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1. 样品要求:粉体/块体样品需要5mg以上;液体样品需要0.5-1mL(浓度ppm级以上);

2. 特别注意:一般不能测试含金属配合物样品,如需测试请具体沟通;默认提供作图数据和截图数据,个别仪器原始数据过大,无法提供。寄送前请沟通详细测试方法,以免收到样品不能测试,耽误您的试验进度!

3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问


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项目介绍

低分辨质谱能精确到质荷比小数点后两位,适合对纯物质进行验证性的标准。对未知物或混合物的分析有较大的局限性。

样品要求

粉体/块体样品需要5mg以上;液体样品需要0.5-1mL(浓度ppm级以上

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常见问题
高分辨质谱与低分辨质谱的区别?

高分辨跟低分辩的区别在于分子量小数点后面的那个数字,四位的是高分辨,2位的是低分辩。


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