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正电子湮灭

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正电子湮灭

满意度: 99%

仪器型号:

美国-ORTEC-快-快复合寿命谱仪,日本-TechnoAP-DPALMS-LH

美国-ORTEC-快-快复合寿命谱仪,日本-TechnoAP-DPALMS-LH

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

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X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

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X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

350/h起

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

已下单45598| 满意度100%

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云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

    扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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场发射扫描电镜(SEM)

优惠价 ¥70.40 ¥80.00起

平均周期5.0个工作日

场发射扫描电镜(SEM)

扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息进行收集、放大、再成像,以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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论文致谢
  • 任**

    吉林大学

    Energy & Environmental Science

    原文链接  Organic iodides in efficient and stable perovskite solar cells: strong surface passivation and interaction

    影响因子:32.5

    现金奖励:566.00

    申请时间:2023-01-30 16:16:11

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1. 样品要求:最佳样品尺寸12×12×2mm或直径12×2mm(边长/直径>12mm,厚度>2mm);
2. 一组样品要同样的2片(正电子测试除慢正电子束测量,都需要2个样品);不同样品尽量保持在同一压力下进行压片(压片后手轻捏不松散就可以了);

3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问



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项目介绍

正电子湮没技术,是一项较新的核物理技术,它利用正电子在凝聚物质中的湮没辐射带出物质内部的微观结构、电子动量分布及缺陷状态等信息,从而提供一种非破坏性的研究手段而备受人们青睐。

样品要求

最佳样品尺寸12×12×2mm或直径12×2mm(边长/直径>12mm,厚度>2mm);一组样品要同样的2片(正电子测试除慢正电子束测量,都需要2个样品);不同样品尽量保持在同一压力下进行压片(压片后手轻捏不松散就可以了);


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常见问题
正电子湮灭都有哪些技术,用来测试什么?

主要有正电子寿命测量、湮没γ角关联测量和湮没谱线多普勒增宽测量三类。

寿命谱

22Na放射的正电子入射到测试样品中,同其中的电子发生湮没,放出γ射线。用1.27 MeV的γ光子标志正电子的产生,并作为起始信号,511 keV的湮没辐射γ光子标志正电子的“死亡”,并作为终止信号,两个信号之间的时间就是正电子的寿命。

双γ角关

正电子源通常为64Cu、22Na、58Co, 测量时相对于固定探头以z方向为轴转动另一探头,测出符合计数率随角度的分布,就可以得到电子在某个方向上的动量分布。

多普勒增宽谱:

使用高能量分辨率Ge(Li)或高纯锗半导体探测器,测量湮没辐射的能谱;

目前平台仅提供寿命谱模式;

粉末样品可以测试吗?

只能测试块体,需要压片后送样;

正电子湮灭数据拟合用什么软件?

PATFIT、freevolumef;


正电子湮灭是如何判断不同缺陷类型的?

不同缺陷寿命不同,通过寿命拟合,可以判断缺陷的类型,比如纳米孔、离子键导致的缺陷都可以通过寿命值大小来区分;

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