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辉光放电光谱/质谱(GD-OES/MS)

限时7折 满意度: 99%

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常见问题

辉光放电光谱/质谱(GD-OES/MS)

限时7折 满意度: 99%

仪器型号:

美国-Thermo Fisher-ELEMENT GD Plus,德国-SPECTRUMA-GDA 750 HR,英国-Nu-Astrum ES

美国-Thermo Fisher-ELEMENT GD Plus,德国-SPECTRUMA-GDA 750 HR,英国-Nu-Astrum ES

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电感耦合等离子体光谱/质谱(ICP-OES/MS)

优惠价 ¥36.00 ¥60.00起

平均周期5.0个工作日

电感耦合等离子体光谱/质谱(ICP-OES/MS)

  电感耦合等离子体(ICP)是用于原子发射光谱和质谱的主要光源,以ICP为中心,在周围安装多个检测单元(每一元素配一个检测单元),形成了多元素分析系统。用它做激发光源具有检出限低、线性范围广、电离和化学干扰少、准确度和精密度高等优点。  ICP-OES利用的是原子发射光谱进行定性定量分析;ICP-MS利用的是离子质谱,采用质荷比不同而进行分离检测。两者可分析的元素基本一致,不过由于分析检测系统的差异,两者的检测限有差异:ICP-MS的检测限很低,可以达到ug/L(ppb)的水平;而ICP-OES一般是mg/L(ppm)的级别。不过ICP-MS只能分析固体溶解量为0.2%左右的溶液(因此经常需要稀释),而ICP-OES则可以分析固体溶解量超过20%的溶液。

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有机元素分析(EA)

优惠价 ¥135.00 ¥180.00起

平均周期5.5个工作日

有机元素分析(EA)

  有机元素分析仪是一种能够精准、高效、便捷获得有机化合物中有机元素(C、H、O、N、S)含量的仪器,其测试原理是样品在高温富氧环境中经催化氧化使其燃烧分解,生成的气体混合物在排除干扰物后,利用特殊的吸附-解吸附装置,被有效地分离,再使用热导检测器对相应的气体进行分别检测,氦气作为载气和吹扫气。  在已知样品质量的前提下,通过测定样品完全燃烧后生成气态产物的多少,并进行换算即可求的试样中各元素的含量,被广泛应用于有机化合物、高分子材料、生物医药、石油化工等诸多领域。  可做测试项目:CHN模式、CHNS模式、O模式。

原子吸收光谱(AAS)

已下单1310| 满意度99%

平均周期6.0个工作日

原子吸收光谱(AAS)

   原子吸收光谱,又称原子吸收分光光度分析。原子吸收光谱分析是基于试样蒸气相中被测元素的基态原子对由光源发出的该原子的特征性窄频辐射产生共振吸收,其吸光度在一定范围内与蒸气相中被测元素的基态原子浓度成正比,以此测定试样中该元素含量的一种仪器分析方法。该项目可对可对多种元素进行微痕量测定,可提供样品前处理,如稀释、微波、酸溶、碱溶等。

原子荧光光谱(AFS)

已下单585| 满意度99%

平均周期5.0个工作日

原子荧光光谱(AFS)

  原子荧光光谱法(AFS)通过测量待测元素的原子蒸汽在辐射能激发下产生的荧光发射强度,来确定待测元素含量的方法。其灵敏度较原子吸收法高、仪器简单、采集和运行成本低,已广泛应用于各领域的痕量元素分析。目前主要用于Cd、Zn、Hg、As、Sb、Sn、Pb、Ga和In等元素的测定。

项目介绍

样品要求

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常见问题

预约须知

1. 样品要求:块体直径18-40 mm高/厚度:3-50 mm,最佳厚度5-15mm,尺寸最大限制70*70mm,最小4*4mm,规则块状样粉体材料需要2g以上固体一般需要磨抛加酸洗,粉末需要压片,金属、合金;半导体以及非导体均可(嵌入石墨或铟,增加导电性),不能测有机样;

2. 特别注意:表面粗糙度不大于 3.2,越光滑越好;可以得到时间(s /秒)-百分含量(%)曲线,结果中会附有相应数据说明;

3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;



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项目介绍

辉光放电光谱

1.测量时显示时间-强度曲线,是客观的,客观体现随溅射时间的增加元素强度的变化;测量后可转换成时间-百分含量曲线;



辉光放电质谱:

可得到元素半定量数据。由于其可以直接固体进样,已成为无机固体材料,尤其是高纯金属、合金等材料杂质成分分析的强有力方法。

 


样品要求

1. 样品要求:块体直径18-40 mm高/厚度:3-50 mm,最佳厚度5-15mm,尺寸最大限制70*70mm,最小4*4mm,规则块状样粉体材料需要2g以上

2. 特别注意:表面粗糙度不大于 3.2,越光滑越好

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屏幕截图 2023-11-30 134444.png


常见问题
测试需要样品导电吗?适合测什么物质呢?

要求样品必须导电,一般适用于纯物质中杂质的测试。


GDMS可以测的全部元素包含哪些呢?

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