
项目推荐
电感耦合等离子体光谱/质谱(ICP-OES/MS)
项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题

1. 样品要求:块体直径18-40 mm,高/厚度:3-50 mm,最佳厚度5-15mm,尺寸最大限制70*70mm,最小4*4mm,规则块状样;粉体材料需要2g以上;固体一般需要磨抛加酸洗,粉末需要压片,金属、合金;半导体以及非导体均可(嵌入石墨或铟,增加导电性),不能测有机样;
2. 特别注意:表面粗糙度不大于 3.2,越光滑越好;可以得到时间(s /秒)-百分含量(%)曲线,结果中会附有相应数据说明;
3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;
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辉光放电光谱
1.测量时显示时间-强度曲线,是客观的,客观体现随溅射时间的增加元素强度的变化;测量后可转换成时间-百分含量曲线;
辉光放电质谱:
可得到元素半定量数据。由于其可以直接固体进样,已成为无机固体材料,尤其是高纯金属、合金等材料杂质成分分析的强有力方法。

1. 样品要求:块体直径18-40 mm,高/厚度:3-50 mm,最佳厚度5-15mm,尺寸最大限制70*70mm,最小4*4mm,规则块状样;粉体材料需要2g以上;
2. 特别注意:表面粗糙度不大于 3.2,越光滑越好



要求样品必须导电,一般适用于纯物质中杂质的测试。


400-630-1090
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2022-10-18 0 909