辉光放电光谱/质谱（GD-OES/MS）-e测试

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辉光放电光谱/质谱（GD-OES/MS）

满意度： 99%

仪器型号：

美国-赛默飞-Element GD，德国赛默飞 Element GD Plus，美国-Thermofisher-Element GD Plus，赛默飞ELEMENT GD辉光放电高分辨质谱仪，美国热电等

预约次数：

241次

服务周期：

平均7.3个工作日

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项目介绍

样品要求

结果展示

常见问题

预约须知

1. 样品要求：块体直径20-65mm，最佳厚度5-15mm，不超过40mm，导体材料；粉体材料，2g以上；

2. 特别注意：表面粗糙度不大于 3.2，越光滑越好；可以得到时间（s /秒）-百分含量（%）曲线，结果中会附有相应数据说明；

3. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；

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项目介绍

辉光放电光谱

1.测量时显示时间-强度曲线，是客观的，客观体现随溅射时间的增加元素强度的变化；测量后可转换成时间-百分含量曲线；

辉光放电质谱：

可得到元素半定量数据。由于其可以直接固体进样，已成为无机固体材料，尤其是高纯金属、合金等材料杂质成分分析的强有力方法。

样品要求

1. 样品要求：块体直径20-65mm，最佳厚度5-15mm，不超过40mm，导体材料；粉体材料，2g以上；

2. 特别注意：表面粗糙度不大于 3.2，越光滑越好

结果展示

屏幕截图 2023-11-30 134444.png

常见问题

测试需要样品导电吗？适合测什么物质呢？

要求样品必须导电，一般适用于纯物质中杂质的测试。

GDMS可以测的全部元素包含哪些呢？

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