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原位X射线光电子能谱(原位XPS)

项目介绍
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常见问题

原位X射线光电子能谱(原位XPS)

满意度: 98%

仪器型号:

美国-Thermo Fisher-ESCALAB 250Xi,德国-SPECS-NAP-XPS,日本-PHI-VersaProbe 4

美国-Thermo Fisher-ESCALAB 250Xi,德国-SPECS-NAP-XPS,日本-PHI-VersaProbe 4

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X射线光电子能谱(XPS)

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X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

XPS深度剖析

已下单1208| 满意度100%

平均周期5.0个工作日

XPS深度剖析

1. XPS深度剖析可测试元素沿样品深度上的含量变化;计时收费;2. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;3. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

微区XPS

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平均周期7.0个工作日

微区XPS

1.可进行XPS微区测试,采谱面积20~1300um;2.要求样品测试区域标记好;

宏基因组

已下单140| 满意度100%

平均周期30.0个工作日

宏基因组

宏基因组学(Metagenomics),又称元基因组学。以特定生境中的整个微生物群落为研究对象,采用高通量测序技术,获得环境微生物基因组信息总和,以研究环境微生物的群落结构、物种分类、系统进化、基因功能以及代谢通路等。宏基因组测序技术促进了微生物资源的开发利用,并加速了微生态科研进程的深度研究

项目介绍

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常见问题

论文致谢
  • 黎**

    广州大学

    Angewandte Chemie International Edition

    原文链接  Structure-Function Relationship of p-Block Bismuth for Selective Photocatalytic CO2 Reduction

    影响因子:16.6

    现金奖励:500.00

    申请时间:2024-07-30 22:56:29

  • 钟**

    西南大学

    Sensors and Actuators B: Chemical

    原文链接  Red emission carbon dots for mitoxantrone detection

    影响因子:9.221

    现金奖励:366.00

    申请时间:2023-02-18 17:07:43

预约须知

1. 样品要求:块状和薄膜样品,长宽小于10mm,高度小于3mm,最佳尺寸小于5×5×2mm,大尺寸样品请联系技术顾问确认,请务必标记好测试面; 粉末样品,不少于10mg;不测试液体样品;

2. 特别注意:无法测试含F、Cl、Br、I、P、S、Hg单质等易挥发成分的材料;样品表面请用乙醇擦拭干净并抽真空来样,样品接触空气容易受C,N,O,Si等元素污染,测试结果可能会有误差;含量小于5%的元素可能测不出明显信号,请悉知;测试默认Al靶;

3. 原位测试具体报价,请联系技术顾问沟通确认


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项目介绍

1.  可进行光照、高温、加气氛,电化学的XPS测试;

2.  一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;

3.  XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;

4.  测试默认单色化Al靶(Al Kα source),能量1486.68eV;


样品要求

1. 样品状态:要求块状、薄膜、粉末样品;

2. 粉末样品:至少10mg;

3. 块状/薄膜样品:尺寸小于10*10*3mm,最佳尺寸小于5*5*2mm;需标记好测试面;

4. 液体样品:需制好样干燥后再测试;制样方法:(悬浊)、离子液体、膏状等样品可滴到Si片、聚乙烯/聚丙烯、金属片、滤膜、滤纸、树脂、海绵等固体基片上晾干或冷冻干燥后上机测试(注意正确选择基底,避免干扰);

5、注意:

①易氧化的样品建议手套箱制样,也请抽真空后送样;

②XPS是高真空环境测试的,所以要求样品要充分干燥,易吸湿样品请提前说明;

③不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品;

④样品含有放射性元素请提前说明;

⑤块状/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样,接触空气容易受C、N、O、Si等元素污染,测试结果可能会有误差;

⑥样品是用胶带固定到样品台上,回收的样品会有污染或损坏/损失,不建议回收样品!


结果展示


XPS和原位XPS.png

常见问题
XPS谱峰校正标准是什么呢?

一般是以C-C峰284.8ev进行校正的,总谱、分谱是不同的测试方法,所有不是一起校正的,只校正分谱数据,总谱不用校正;价带谱VB是以刚出峰的位置为0进行校正的;


单个元素如果测有不同轨道的谱图,定量以哪个为准呢?

定量时以元素的特征轨道谱图为准,如果存在多个轨道,切忌重复计算;若不同元素间轨道有重合,一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。


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