正离子湮灭-e测试

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正电子湮灭

满意度： 99%

仪器型号：

DPLS3000，EG&G ORTEC fast-fast coincidence system，美国-ORTEC-快-快复合寿命谱仪等

预约次数：

290次

服务周期：

平均8.7个工作日

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项目介绍

样品要求

结果展示

常见问题

论文致谢

预约须知

1. 样品要求：最佳样品尺寸12×12×2mm或直径12×2mm（边长/直径＞12mm，厚度＞2mm）；
2. 一组样品要同样的2片（正电子测试除慢正电子束测量，都需要2个样品）；不同样品尽量保持在同一压力下进行压片（压片后手轻捏不松散就可以了）；

3. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；

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项目介绍

正电子湮没技术，是一项较新的核物理技术，它利用正电子在凝聚物质中的湮没辐射带出物质内部的微观结构、电子动量分布及缺陷状态等信息，从而提供一种非破坏性的研究手段而备受人们青睐。

样品要求

最佳样品尺寸12×12×2mm或直径12×2mm（边长/直径＞12mm，厚度＞2mm）；一组样品要同样的2片（正电子测试除慢正电子束测量，都需要2个样品）；不同样品尽量保持在同一压力下进行压片（压片后手轻捏不松散就可以了）；

结果展示

常见问题

正电子湮灭都有哪些技术，用来测试什么？

主要有正电子寿命测量、湮没γ角关联测量和湮没谱线多普勒增宽测量三类。

寿命谱：

22Na放射的正电子入射到测试样品中,同其中的电子发生湮没，放出γ射线。用1.27 MeV的γ光子标志正电子的产生,并作为起始信号,511 keV的湮没辐射γ光子标志正电子的“死亡”，并作为终止信号，两个信号之间的时间就是正电子的寿命。

双γ角关联：

正电子源通常为64Cu、22Na、58Co, 测量时相对于固定探头以z方向为轴转动另一探头,测出符合计数率随角度的分布,就可以得到电子在某个方向上的动量分布。

多普勒增宽谱：

使用高能量分辨率Ge(Li)或高纯锗半导体探测器，测量湮没辐射的能谱；

目前平台仅提供寿命谱模式；

粉末样品可以测试吗？

只能测试块体，需要压片后送样；

正电子湮灭数据拟合用什么软件？

PATFIT、freevolumef；

正电子湮灭是如何判断不同缺陷类型的？

不同缺陷寿命不同，通过寿命拟合，可以判断缺陷的类型，比如纳米孔、离子键导致的缺陷都可以通过寿命值大小来区分；

咨询热线

400-005-5990