原子力显微镜（AFM）--特殊模式一e测试

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原子力显微镜（AFM）--特殊模式

满意度： 98%

仪器型号：

Bruker Dimension ICON，Demension icon Bruker，USA，Veeco+BioScope Ⅱ，德国-Oxford Instruments Asylum Resea等

预约次数：

1426次

服务周期：

平均10-15个工作日

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项目介绍

样品要求

结果展示

常见问题

预约须知

1. 样品要求：块体及薄膜样品，长宽小于30mm，厚度不超过5mm（请务必标记好测试面）；粉末/纤维样品质量不小于20mg（需说明制样方法）；液体样品含量不少于1mL（液体制样后测试，无法直接测试液态或含液体的样品，也需说明制样方法）；

2. 特别注意：块体及薄膜样品表面起伏不超过1μm；形貌拍摄由于其特殊性，老师会尽力拍摄，但无法保证一定会拍到您预期效果的图片，敬请理解！

3. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；

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项目介绍

表面形貌KPFM、压电PFM、纳米力学QNM（力曲线、杨氏模量）、导电性能C-AFM、磁学性能MFM、静电力EFM 以及表面形貌、厚度、粗糙度测试；

样品要求

1. 样品状态：块体/薄膜、粉末、液体；

2. 块体/薄膜样品：长宽要求5-30mm，厚度要求1-5mm，表面粗糙度不超过1μm，请务必说明并标记测试面；

3. 粉末样品：至少提供20mg；务必说明制样条件（制样浓度、分散剂、是否超声以及超声时间）；

4. 液体样品：至少提供1mL；务必说明制样条件（是否稀释以及稀释多少倍、分散剂、是否超声以及超声时间）；

结果展示

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常见问题

测试模式和数据有哪些？

表面形貌测试：可得到样品表面形貌（2D、3D）以及粗糙度和厚度/高度;

导电性能测试(C-AFM)：同时得到形貌和电流分布图；也可以进行选区I-V曲线测试;

表面电势测试(AFM-KPFM): 表面电荷的半定性表征，能直接测量探针和样品之间的电势差;

磁学性能测试(AFM-MFM)：微区磁畴的分布表征;

纳米力学测试(AFM-QNM)：力学图谱测量，可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量，得到微区的杨氏模量分布，适用于较软样品高级纳米力学成像模式，可对有机物，高分子以及金属材料进行扫描，同时得到形貌和模量分布;

压电力测量(AFM-PFM)：薄膜，陶瓷，晶体，纤维材料的表面铁电畴表征，极化反转和蝴蝶曲线测试，畴操纵;

咨询热线

400-005-5990