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原子力显微镜(AFM)--特殊模式

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原子力显微镜(AFM)--特殊模式

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仪器型号:
德国-Oxford Instruments Asylum Research/Cypher S,德国-布鲁克-Dimension Icon,牛津-MFP-3D Origin+,英国-牛津仪器Asylum Research + Cypher ES + Cypher S+ MFP 3D-BIO等
预约次数:
938次
服务周期:
平均10-15个工作日
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论文致谢
预约须知

1. 样品要求:块体及薄膜样品,长宽小于30mm,厚度不超过5mm(请务必标记好测试面);粉末/纤维样品质量不小于20mg(需说明制样方法);液体样品含量不少于1mL液体制样后测试,无法直接测试液态或含液体的样品,也需说明制样方法)

2. 特别注意:块体及薄膜样品表面起伏不超过10μm;形貌拍摄由于其特殊性,老师会尽力拍摄,但无法保证一定会拍到您预期效果的图片,敬请理解!

3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问

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项目介绍

表面形貌KPFM、压电PFM、纳米力学QNM(力曲线、杨氏模量)、导电性能C-AFM、磁学性能MFM、静电力EFM 以及表面形貌、厚度、粗糙度测试;

样品要求

1. 样品状态:块体/薄膜、粉末、液体;

2. 块体/薄膜样品:长宽要求5-30mm,厚度要求1-5mm,表面粗糙度不超过10μm,请务必说明并标记测试面;

3. 粉末样品:至少提供20mg;务必说明制样条件(制样浓度、分散剂、是否超声以及超声时间);

4. 液体样品:至少提供1mL;务必说明制样条件(是否稀释以及稀释多少倍、分散剂、是否超声以及超声时间);

结果展示


常见问题
测试模式和数据有哪些?

表面形貌测试:可得到样品表面形貌(2D、3D)以及粗糙度和厚度/高度;

导电性能测试(C-AFM):同时得到形貌和电流分布图;也可以进行选区I-V曲线测试;

表面电势测试(AFM-KPFM): 表面电荷的半定性表征,能直接测量探针和样品之间的电势差;

磁学性能测试(AFM-MFM):微区磁畴的分布表征;

纳米力学测试(AFM-QNM):力学图谱测量,可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量,得到微区的杨氏模量分布,适用于较软样品高级纳米力学成像模式,可对有机物,高分子以及金属材料进行扫描,同时得到形貌和模量分布;

压电力测量(AFM-PFM):薄膜,陶瓷,晶体,纤维材料的表面铁电畴表征,极化反转和蝴蝶曲线测试,畴操纵;


预约须知

须知:

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