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原子力显微镜(AFM)-特殊模式

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原子力显微镜(AFM)-特殊模式

满意度: 98%

仪器型号:

英国-OXFORD-MFP-3D Origin+,德国-Bruker-Dimension Icon,英国-OXFORD-Cypher S,德国-Bruker-Dimension Edge,德国-Bruker-MultiMode 8-HR

英国-OXFORD-MFP-3D Origin+,德国-Bruker-Dimension Icon,英国-OXFORD-Cypher S,德国-Bruker-Dimension Edge,德国-Bruker-MultiMode 8-HR

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平均3.5-8.0个工作日

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原子力显微镜(AFM)

优惠价 ¥228.00 ¥300.00起

平均周期5.5个工作日

原子力显微镜(AFM)

样品的表面形貌、厚度、粗糙度以相图测试,厚度、粗糙度需进一步处理数据得到,相图一般在Tapping模式下测试;               

云现场-原子力显微镜(AFM)

已下单2867| 满意度100%

平均周期8.5个工作日

云现场-原子力显微镜(AFM)

样品的表面形貌、厚度、粗糙度以相图测试;厚度、粗糙度需进一步处理数据得到;相图一般在Tapping模式下测试;  此外特殊模式可以测KPFM,PFM,C-AFM,QFM等         

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

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常见问题

预约须知

1. 样品要求:块体及薄膜样品,长宽小于30mm,厚度不超过5mm(请务必标记好测试面);粉末/纤维样品质量不小于20mg(需说明制样方法);液体样品含量不少于1mL液体制样后测试,无法直接测试液态或含液体的样品,也需说明制样方法)

2. 特别注意:块体及薄膜样品表面起伏不超过1μm;形貌拍摄由于其特殊性,老师会尽力拍摄,但无法保证一定会拍到您预期效果的图片,敬请理解!

3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问

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项目介绍

表面形貌KPFM、压电PFM、纳米力学QNM(力曲线、杨氏模量)、导电性能C-AFM、磁学性能MFM、静电力EFM 以及表面形貌、厚度、粗糙度测试;

样品要求

1. 样品状态:块体/薄膜、粉末、液体;

2. 块体/薄膜样品:长宽要求5-30mm,厚度要求1-5mm,表面粗糙度不超过1μm,请务必说明并标记测试面;

3. 粉末样品:至少提供20mg;务必说明制样条件(制样浓度、分散剂、是否超声以及超声时间);

4. 液体样品:至少提供1mL;务必说明制样条件(是否稀释以及稀释多少倍、分散剂、是否超声以及超声时间);

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常见问题
测试模式和数据有哪些?

表面形貌测试:可得到样品表面形貌(2D、3D)以及粗糙度和厚度/高度;

导电性能测试(C-AFM):同时得到形貌和电流分布图;也可以进行选区I-V曲线测试;

表面电势测试(AFM-KPFM): 表面电荷的半定性表征,能直接测量探针和样品之间的电势差;

磁学性能测试(AFM-MFM):微区磁畴的分布表征;

纳米力学测试(AFM-QNM):力学图谱测量,可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量,得到微区的杨氏模量分布,适用于较软样品高级纳米力学成像模式,可对有机物,高分子以及金属材料进行扫描,同时得到形貌和模量分布;

压电力测量(AFM-PFM):薄膜,陶瓷,晶体,纤维材料的表面铁电畴表征,极化反转和蝴蝶曲线测试,畴操纵;


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