扫描电镜(SEM)各种应用及案例分析
2024-03-28 15:31:40 0 2209
扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope, 简称SEM)是一种电子显微镜,介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜作为现代科研中不可或缺的工具,广泛应用于材料学、物理学、生物学、地矿学、考古学等多个领域。本文将通过一些常见的应用领域案例分析,来展示SEM在科研中的重要作用。
案例1:
图1. Mg/MOF-74 纳米复合物的FE-SEM图和EDS 元素分布图
[文献1]王永清. 镁基纳米复合材料的制备、改性及其储氢性能研究[D].广西大学,2021.DOI:10.27034/d.cnki.ggxiu.2020.000374.
案例2:
图2. SiCf/Ti-200 复合材料纵抛面SEM图
案例3:
图3. 回火温度为620℃试样的OM 图和SEM 图
[文献3]李开颜. 热处理工艺对00Cr13Ni5Mo超级马氏体不锈钢组织和性能的影响[D].中北大学,2024.DOI:10.27470/d.cnki.ghbgc.2023.000462.
案例4:
图4. 陶瓷的SEM图,插图为SYT14-7M和SYT14-9M陶瓷的 EDS能谱
案例5:
案例6:
案例7:
案例8:
从图8中可以看出,Sb2Se3晶体由一些大的微米级晶粒组成。(Sn0.05Sb0.95)2Se3晶体经化学腐蚀后清楚显示出晶粒分布,且平均晶粒尺寸约为15μm。此外,通过 EDS元素分布图能观察到晶体中各元素的空间分布,其中Sb和Se在整个晶体中均匀分布,而掺杂元素Sn经化学腐蚀后在晶界处存在富集现象。对于Sn 掺杂浓度更高的(Sn0.10Sb0.90)2Se3晶体,化学腐蚀后Sn富集区更加明显,如图 8c 所示。图8d中点1取自图8b,点2则取自图 8c,两个点的原子比Sn:Sb:Se 分别为14.54:23.74:61.72和15.39:22.22:62.39。由此可知,不同化学组成的(SnxSb1-x)2Se3晶体得到的Sn富集区却呈现类似的元素组成,并且具体的原子比例接近于Sn2Sb4Se8对应的化学计量比,即2:4:8。
案例9:
[文献9]纪娟,谭盼盼,杨军昌.先秦至汉代金器文物制作工艺的扫描电镜能谱分析[J].中国文物科学研究,2022(01):64-71.
案例10:
[文献10]杨柳,谢红梅,钟宇.红外显微光谱法和扫描电镜/X射能谱法在油漆分析中的研究[J].山东化工,2023,52(09):154-156.DOI:10.19319/j.cnki.issn.1008-
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