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首页 测试百科 X射线多晶衍射(XRD)测试常见问题(三)

X射线多晶衍射(XRD)测试常见问题(三)

晶粒尺寸 粒径 软件 各向异性温度因子

为什么晶粒尺寸的变化会引起 X 射线衍射的峰线宽化?

理想的晶体是在三维空间中无限的周期性延伸的,所以,如果不考虑仪器宽化的因素,那么理想晶体的衍射峰应该是一条线,但是实际晶体都是有尺寸的,即,周期性不是无限的,这就造成了由于结晶粒度引起的宽化,如果结晶粒度无限小下去,衍射峰就会宽化直至消失变成大鼓包了,也就是非晶了。  
晶体晶粒细化,多晶试样中存在宏观应力时,衍射花样的变化情况是怎样?
不管是粉末试样还是(多)晶体试样,粉末颗粒或晶粒太粗,参加衍射的晶粒少,会使衍射线条起麻,衍射的重现性差。粉末颗粒或晶粒过细时,会使衍射线条变宽,这些都不利于分析工作。存在宏观内应力的效应是使得衍射环或衍射峰的位置改变,导致底片上的衍射线条变宽,不利于分析工作。
除了结构缺陷和应力等因素外,为什么粒径越小,衍射峰越宽?
从衍射理论知道,衍射极大和第一极小之间的角宽度与发生相干衍射区域(相干域)的尺寸有关,相干域越大,角宽度就越小。一般来说,相干域的尺寸小于 2 微米,就会使衍射峰造成可测量的宽化。所以,晶粒的粒径越小,以至不能再近似看成具有无限多晶面的理想晶体,对 X 射线的弥散现象就越严重,表现在峰强变弱,峰变宽。 
已经知道晶体的晶格常数、晶系以及各衍射峰的 hkl 值,请问如何确定其空间群,有没有相应的软件?
有了这些就可以用Shelx来解晶体了,空间群自然也就能确定了。可以用国际晶体学手册, 利用你的已知数据便可查。未知物质的空间群是根据统计消光规律来得到的,最终的结果还要用结构测定的结果来最后确定,统计消光规律来推测空间群的软件有 XPREP,wingx 等。
具体可以如下操作:衍射数据当作P1空间群处理然后利用Pattern 程序生成 Psudo-Precession然后根据系统消光规律推导出晶体的劳埃对称性。不是所有的时候都可以直接给出最终的空间群。最好在解完结构之后,利用结构解析程序产生的FCF文件再重新核对一遍。
晶体的各向异性温度因子是如何定义的?
晶体中的原子普遍存在热运动,这种运动在绝对零度时也未必停止。通常所谓的原子坐标 是指它们在不断振动中的平衡位置。随着温度的升高,其振动的振幅增大。这种振动的存在增大了原子散射波的位相差,影响了原子的散射能力,即衍射强度。
在晶体中,特别是对称性低的晶体,原子各个方向的环境并不相同,因此严格地说不同方向的振幅是不等的,由此引入了各向异性温度因子。
XRD 峰整体向右偏移是什么原因造成的?
可能是离子半径小的元素取代了离子半径大的元素。
也可能是你制样时,样品表面高出了样品座平面或者仪器的零点不准造成的,建议你最好用标样来修正你的数据。
为什么有的 XRD data 中,有(200)(400)面,而没有最基本的(100)面数据?或者有 (220)而没有(110)?
粉晶衍射不一定能出现所有的面网,很多物质的粉晶衍射都不一定出现(100)(110),这 与结构有关。晶体衍射有个叫"消光"的现象,晶体的"消光规律"决定于它的结构的对称性,不同的空间群 其"消光规律"不同。如果应该出现的衍射而没有出现,那就是样品的择优取向引起的。再者(100)面的角度比较低,有时是没有扫到或淹没在低角度的背景中了。
衍射峰左右不对称是何原因?
衍射仪获得的衍射峰形(精确地说是衍射线的剖面,diffraction lineprofile)是不对称的, 尤其是在低角度区(2θ < 30°)表现更为明显。峰型不对称是由多方面的因素造成的,主要是衍射仪光路的几何因素、仪器的调整状况以 及样品的吸收性质等。
(用 X 射线衍射仪)做 X 射线衍射时,一些(仪器)参数对谱线有什么影响?
如何选择仪器参数主要取决于做 X 射线衍射的目的。比如:扫描速度,如果是一般鉴定就可以取快一些(4-8 度/分),如果是精修晶胞参数就要扫慢一些;狭缝条件,狭缝越小分辨率越高,但强度就会减小,不宜快扫,这又要增加时间。
还要根据样品的衍射能力、结晶 度等因素来定。如果是步进扫描:测定晶胞参数可以取每个步进度 1-30 秒,如果做结构精 测 30 秒到数分钟不等(对于普通功率的衍射仪,40kV、40mA)。
XRD结果分析---最高峰位置转变是什么原因?
峰位没变说明没有相变,峰高变化一般说明产生了织构
XRD测试,用薄膜测试法和粉末测试法出来的结果完全不同
按照常规衍射(θ-2θ扫描),那么,参与衍射的面只是那些与样品表面平行的面(或者近似平行)。
采用掠入射衍射,则衍射晶面就不是与样品表面平行的面,而一个与样品表面存在一个夹角的面(首先这些面存在,且满足衍射条件)。

所以扫描方法不同,XRD图是不同的。

本文由e测试整理,未经允许,禁止转载。


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