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首页 测试百科 XPS测试常见问题(二)

XPS测试常见问题(二)

数据分析 窄谱元素 软件 固定半高宽



Q:分峰软件中 Lorentzian-Gaussian值最后固定在20%左右??为啥我看到有的说是最后是80%

1.Lorentzian-Gaussian值最后固定在20%左右,说80%的Gaussian-Lorentzian。

Q:所测窄谱元素,含量比为啥跟预期不符?

1,样品表面被污染
2,样品分布不均匀
3,该元素不分布在样品表面,即不在XPS所测微区范围内
4,XPS是半定量分析,和元素的实际含量会有出入。
PS:XPS是一种典型的表面分析手段,用于定性及半定量分析,测试得到的仅是样品表面几百甚至几十um大小,几个nm深度的样品信息,不代表样品整体性质。

Q:样品不含有这个元素,为什么全谱测出这个元素了(除CNO)?

1,样品理论上应该不含有,但是样品在处理过程中是有引入该元素的成分,在后续的处理过程没有完全处理干净。
2,待测试样品是在某种基底上测试的,但待测试样品量较少,测试到了基底。
3,被同一批次的其他样品,或者有易挥发组分(如S、F),或者进行刻蚀后,污染了该样品表面。

Q: 一个碱熔渣的XPS,想分析其中是否含有+3价的Ti,如果有,和+4价钛的大致比例为多少,通过学习分峰后发现与标准Ti的键能不同,不知道是否处理有误?

1. C的标定通常是284.6 eV。
首先 应该拟合C 1s峰,然后看其峰值与标定值(284.6 eV)相差多少;
拟合Ti 2p峰前,应相应减去或加上上述差值,然后再拟合。
拟合方法就不赘述了。
另外,有没有Ti3+不好说,要根据你的实验情况,给你的拟合后的峰,有Ti3+,含量也可以从峰面积中读出,但是并不一定准确。应该还有个对比实验,因为你的负移太大了。Ti4+峰值都对不上。

Q: XPS的原始TXT数据用什么办法转化成VMS格式的文件,以便用casaXPS软件打开。

1.把后缀TXT改成TSF。然后再CASAXPS选择convert(不是点open),就会自动生成一个VMS文件。


Q:在进行XPS分峰时所说的固定半高宽的意思是:(1) 同种元素不同形态(即不管是什么价态,不管是在1/2还是在3/2轨道上的)的半高宽都相同?(2)只需同种形态的1/2,3/2上的半高宽相同(即不同价态的可以不相同)?请问是上述的哪种含义?

1.半峰宽是分辨率的一种表现方式,XPS半峰宽受X射线本身的色差,XPS峰的本征展宽,还有电子能量分析器的分辨力影响。
XPS峰的本征展宽是由于能级跃迁有能量-时间不确定原理制约,所以能级本身会有一定宽度。严格来说,1/2和3/2的能级不一样,所以展宽也会不同,但是区别非常小,小到XPS根本无法分辨,所以对于XPS分峰,相同元素的不同价态以及自旋-轨道分裂的双峰都应保证相同的半峰宽。
但对于实际情况来说,固体表面是非常复杂的,比如氧化物,表面的氧缺陷导致表面金属离子价态并不呈现一个固定值,所以说在分峰时往往做统一处理,这时就不保持半峰宽一致,原因是这个峰里包含了许多价态。
再比如,金属表面和体相状态是完全不同的,而金属表面又会有各种缺陷,有edge、corner、kink等各种结构,从理论上来说,所有不同状态的元素的相同能级都应有相同的半峰宽,但由于这种复杂性的存在,往往做统一处理,这时就不用保持半峰宽一致了。
总而言之,分峰时具体问题要具体分析,如果分出的峰是一种作统一处理的峰,当然不用保证与其他峰的半峰宽一致,但如果分出的峰是具有明确特征和价态的峰,这类峰如果是相同元素相同能级,就需要保持半峰宽相同。

Q:样品中,某元素窄谱曲线不光滑,峰刺较多,或没有测出该元素?

1.元素含量比较低。
2.样品分布不均匀,所测试的光斑范围内,该元素含量较少。

3.该元素不分布在样品表面,即不在XPS所测微区范围内。

本文由e测试整理,未经允许,禁止转载。

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