fib制样|fib 制样|fib电镜制样-e测试

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TEM制样-聚焦离子束（FIB）制样

满意度： 100%

仪器型号：

国仪量子 DB500+牛津 Xplore 30，美国-FEI-FIB Strata 400S，日本-JEOL-JEM-2100F，TESCAN AMBER，捷克-Tescan-LYRA3 XMU，美等

预约次数：

2073次

服务周期：

平均15.0个工作日

立即预约收藏

项目介绍

样品要求

结果展示

常见问题

预约须知

1. 样品要求：透射制样的样品，表面最好抛光；最佳尺寸：1cm*1cm*0.1cm; 粉末样品尺寸至少在3微米以上才能进行FIB制样；

2. 为了测试老师能够更好的处理您的样品，请您下单时备注具体的样品信息是否导电是否有磁性；
3. 特别注意：样品尺寸及制样要求提前发技术顾问确认；样品中有磁性元素也可制样测试；备注下样品的导电性，若导电性较差，会对样品喷金；计时收费一般为FIB+SEM测试；透射制样一般为按样品收费；如需制备SEM样，请在”聚焦离子束（FIB）制样--SEM“项目中下单。

4. FIB-TEM采用云视频方式定位，定位时间需控制在半小时以内，如测试位置复杂难找或需用mapping辅助定位，时间可能会超过半小时，超出时间需加收机时费用，费用按FIB-SEM标准进行收费

5. 如有疑问，请联系前期对接的技术顾问；

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项目介绍

用途及功能：

1.定点剖面形貌和成分表征

2. TEM样品制备

3. 微纳结构加工

4.切片式三维重构

5.三维原子探针样品制备

适用领域：

结构分析、材料表征、三维重构、材料转移等，该系统可适用于横截面和断层扫描，3D分析，TEM样品制备及纳米图形加工；

样品要求

1.FIB切透射样品：块体样品表面最好抛光；最佳尺寸：1cm*1cm*0.1cm，粉末颗粒的尺寸至少在5微米左右;透射样品制备只保证切出的样品厚度可以拍透射；

2.FIB切SEM样品：如果是颗粒的话颗粒尺寸直径大于1微米；如果是块体的话尺寸最好小于1cm*1cm；

3.特别注意：样品尺寸及制样要求提前发技术顾问确认；样品中有磁性元素也可制样测试；备注下样品的导电性，若导电性较差，会对样品喷金；计时收费一般为FIB+SEM测试；透射制样一般为按样品收费；

结果展示

FIB制备透射样品：

FIB切截面：

三维重构：

常见问题

FIB制样接样注意事项是什么？

1）首先样品成分，是否导电；导电性差的话样品要喷金；

2）其次FIB的目的，截面看SEM还是TEM；TEM是做普通高分辨还是球差，普通的高分辨减薄厚度比球差要厚一些，最薄可以减薄到十个nm左右的厚度；

3）进而切割或取样位置：最好能提供位置示意图；

4）询问材料是否耐高压，FIB制样一般常用电压是30KV；

5）样品最好表面抛光。

FIB TEM制样流程图是什么？

1）找到目标位置，表面喷Pt保护。

2）把目标位置前后两侧挖空，剩下目标区域。

3）机械纳米手将这个薄片取出，开始离子束减薄。

4）减薄到理想厚度后停止。

5）将样品焊到铜网上的样品柱上。一个铜网上有4个柱子，最多可以放4个样品。

注意事项：制备好的样品，需要装在自吸附盒里，避免强烈碰撞，强烈碰撞会导致样品从样品柱上脱落，一旦脱落，样品无法找回。

可以接粉体样么？

可以，一般是滴在硅片上风干后制样

咨询热线

400-005-5990

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