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项目服务
项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题
预约须知
1. 样品要求：透射制样的样品，表面最好抛光；最佳尺寸：1cm*1cm*0.1cm;SEM制样，颗粒需在微米级，计时收费；
2. 为了测试老师能够更好的处理您的样品，请您下单时备注具体的样品信息 是否导电 是否有磁性
3. 特别注意：样品尺寸及制样要求提前发技术顾问确认；样品中有磁性元素也可制样测试；备注下样品的导电性，若导电性较差，会对样品喷金；计时收费一般为FIB+SEM测试；透射制样一般为按样品收费；如需制备SEM样，请在”聚焦离子束（FIB）制样--计时“项目中下单。
3. 如有疑问，请联系前期对接的技术顾问；
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项目介绍
用途及功能：
1.定点剖面形貌和成分表征
2. TEM样品制备
3. 微纳结构加工
4.切片式三维重构
5.三维原子探针样品制备
适用领域：
结构分析、材料表征、三维重构、材料转移等，该系统可适用于横截面和断层扫描，3D分析，TEM样品制备及纳米图形加工；
样品要求
1.FIB切透射样品：块体样品表面最好抛光；最佳尺寸：1cm*1cm*0.1cm，粉末颗粒的尺寸至少在5微米左右;透射样品制备只保证切出的样品厚度可以拍透射；
2.FIB切SEM样品：如果是颗粒的话颗粒尺寸直径大于1微米；如果是块体的话尺寸最好小于1cm*1cm；
3.特别注意：样品尺寸及制样要求提前发技术顾问确认；样品中有磁性元素也可制样测试；备注下样品的导电性，若导电性较差，会对样品喷金；计时收费一般为FIB+SEM测试；透射制样一般为按样品收费；
结果展示
FIB制备透射样品：
FIB切截面：
三维重构：
常见问题
FIB制样接样注意事项是什么？
1）首先样品成分，是否导电；导电性差的话样品要喷金；
2）其次FIB的目的，截面看SEM还是TEM；TEM是做普通高分辨还是球差，普通的高分辨减薄厚度比球差要厚一些，最薄可以减薄到十个nm左右的厚度；
3）进而切割或取样位置：最好能提供位置示意图；
4）询问材料是否耐高压，FIB制样一般常用电压是30KV；
5）样品最好表面抛光。
FIB TEM制样流程图是什么？
1）找到目标位置，表面喷Pt保护。
2）把目标位置前后两侧挖空，剩下目标区域。
3）机械纳米手将这个薄片取出，开始离子束减薄。
4）减薄到理想厚度后停止。
5）将样品焊到铜网上的样品柱上。一个铜网上有4个柱子，最多可以放4个样品。
注意事项：制备好的样品，需要装在自吸附盒里，避免强烈碰撞，强烈碰撞会导致样品从样品柱上脱落，一旦脱落，样品无法找回。
可以接粉体样么？
可以，一般是滴在硅片上风干后制样
满意度： 100%
400-005-5990
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2022-12-30 0 95
