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矢量网络分析仪(VNA)

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常见问题

矢量网络分析仪(VNA)

满意度: 100%

仪器型号:

美国-Keysight-N5244B PNA-X,中国-思议-3672C,美国-Keysight-N5234A PNA-L,中国-思议-3671G

美国-Keysight-N5244B PNA-X,中国-思议-3672C,美国-Keysight-N5234A PNA-L,中国-思议-3671G

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X射线光电子能谱(XPS)

优惠价 ¥54.00 ¥90.00起

平均周期5.0个工作日

X射线光电子能谱(XPS)

1. X射线光电子能谱(XPS)可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱,也可刻蚀后采谱得到深层的信息;2. X射线光电子能谱(XPS)按元素个数收费(需要包含必测元素C,不能测试H、He元素);一个元素默认测一个轨道,若测试多个轨道计为多个元素;一个样品默认一个测试位置,若测试多个位置计为多个位置;3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号;4. 测试默认单色化Al靶(AlKαsource),能量1486.68eV;

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X射线多晶衍射(XRD)

优惠价 ¥24.00 ¥40.00起

平均周期4.5个工作日

X射线多晶衍射(XRD)

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

350/h起

云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

已下单46244| 满意度100%

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云现场/现场-场发射扫描电镜(SEM)

    扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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场发射扫描电镜(SEM)

优惠价 ¥70.40 ¥80.00起

平均周期5.0个工作日

场发射扫描电镜(SEM)

扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息进行收集、放大、再成像,以达到对物质微观形貌表征的目的。此外,扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合,可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。

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论文致谢
  • 董**

    东南大学

    Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects

    原文链接  Excellent microwave absorption of lightweight PAN-based carbon nanofibers prepared by electrospinning

    影响因子:5.518

    现金奖励:266.00

    申请时间:2022-07-27 11:46:31

  • 董**

    东南大学

    Colloids and Surfaces A

    原文链接  Excellent microwave absorption performance of PAN-based Fe/C nanofibers with low loading fillers

    影响因子:5.518

    现金奖励:266.00

    申请时间:2022-10-13 12:16:30

  • 董**

    东南大学

    Ceramics International

    原文链接  Enhanced broadband microwave absorption of Fe/C core-shell nanofibers in X and Ku bands

    影响因子:5.532

    现金奖励:266.00

    申请时间:2022-11-10 13:58:17

预约须知

1、样品要求:

同轴模式,粉体样品,准备100mg以上,说明样品与石蜡混合比例(测试时样品和石蜡的比例:从密度、样品本身介电性能或者需求性能确定,不清楚的第一次建议可先按照50%,然后根据结果进一步确定);

或直接提供同轴环(内径3.04mm,外径7.0mm,厚度2mm内),允许误差±0.01m,块体需要另外加工的提前说明,加工费另算;可以得到电磁参数(复介电常数+复磁导率)+S参数;


波导模式可以得到电磁参数(复介电常数+复磁导率)+S参数,不同频段样品尺寸要求不同,如果样品特别硬,需要机床加工,加工费另算,标准尺寸具体如下(宽*长):厚度不限

1.13-1.73GHz:82.4*164.8 mm

1.72~2.61 GHz:54.46*108.92 mm

2.60~3.95 GHz:33.89*71.84 mm

3.94~5.99 GHz:22.0*47.25 mm

5.38~8.17 GHZ:15.75*34.70 mm

8.2-12.4 GHz:  22.9*10.2mm

12.4-18.0 GHz:15.90*8.03 mm;

18.0-26.5 GHz :10.95*4.50 mm;

26.0-40.0 GHz:7.15*3.60 mm;

注意:①如果需要测试屏蔽性能,邮寄的样品尺寸的长和宽比要求的标准尺寸分别大2-3mm左右,样品小了,可能会漏磁,影响最终测试结果;

软质的薄膜(厚度小于0.5mm),尺寸尽量在20*30mm以上,薄的样品,是贴在波导片中间测的,测试屏蔽性能比较准确,如果是看电磁参数(复介电常数+复磁导率)慎重


弓形模式:可直接得到平板反射率,2-40 GHz是 180*180mm,如果要1-2GHz这段最小样品尺寸300*300mm,即不需要1-2GHz这段就可以按照180*180mm准备)。要求样品表面平整,不能有弯曲;


自由空间法:2-40 GHz最小尺寸120*120mm( 如果要1-2GHz这段最小样品尺寸300*300mm,即不需要1-2GHz这段就可以按照110*110mm准备),适用于厚度2~5mm的样品。样品尺寸可以大,不可以小,要求样品表面平整,不能有弯曲。厚度小于10cm;可以得到透射率、电磁参数、S参数;


谐振腔模式:只能测10GHz左右的单点,测不了频段,数据结果是介电常数损耗角正切圆盘直径10-20mm,厚度2-5mm,薄膜尺寸是长宽30*50mm,厚度需自己测量准确(小于0.5mm)。样品尺寸务必严格,否则影响测试结果;


2、同轴模式注意:样品与石蜡混合比例对测试结果有一定影响,请务必确认好混合质量比,同时还需要考虑样品本身性质确认混合比例如导电性等,如不提供,按默认比例(50%)先测试,请保证按该比例混合的量足够制备要求尺寸的同轴环;另外实验室只能按质量浓度配比制样。

3、 波导模式注意:尺寸要求较高,如果样品材质可使用砂纸打磨,建议稍微比标准尺寸大些,由测试老师打磨后测试,样品较硬,需要细细打磨的需要加收样品加工费;若过小,则会产生一定误差;如无法用砂纸打磨,建议客户加工时拿波导片去加工好刚好能塞进波导片的尺寸再寄出,以免耽误周期;

4、弓形法测试注意:测试角度对数据具有一定的影响,下单前请核实好测试角度。实验室可测试角度范围为8-75°,默认测试角度为8°。

5、如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;


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项目介绍

        矢量网络分析是通过测量元件对频率扫描和功率扫描测试信号的幅度和相位的影响来精确表征元件特性的一种方法。它是微波测试仪器领域中最为重要、应用最为广泛的一种高精度智能化测试仪器,主要被用于测网络散射参量双向S参数的幅频、相频及群时延等特征信息的测量,广泛应用于以相控阵雷达为代表的新一代军用电子装备研制、生产等领域。通过测试可以得到S参数、电磁参数等数据。

样品要求

同轴模式,粉体样品,准备100mg以上,说明样品与石蜡混合比例,或直接提供同轴环(内径3.04mm,外径7.0mm,厚度2mm内),允许误差±0.01m;

波导模式:不同频段样品尺寸要求不同,具体要求如下:

1.72~2.61 GHz,长宽109.22 *54.61mm;

2.60~3.95 GHz,长宽72.14 *34.04mm;

3.94~5.99 GHz,长宽47.549 *22.149mm;

5.38~8.17 GHZ,长宽34.849 *15.799mm;

8.2-12.4 GHz:长宽22.86*10.16 mm;

12.4-18.0 GHz:长宽15.90*8.03 mm;

18.0-26.5 GHz :长宽10.95*4.50 mm;

26.0-40.0 GHz:长宽7.15*3.60 mm;

(厚度/高:1-2 GHz,10~35mm;2-6 GHz,8~12mm;6-18 GHz,2~4mm,18-26.5 GHz,1.5~2.8mm;26.5-40 GHz,1.5~1.8mm)

注意:软质的薄膜(厚度小于0.5mm),尺寸尽量在20*30mm以上,否则影响测试结果;

弓形模式1-2GHz,样品尺寸300*300mm;2-40 GHz是: 180*180mm。(即不需要1-2GHz这段就可以按照180*180mm准备)。要求样品表面平整,不能有弯曲;

自由空间法: 1-2GHz:最小样品尺寸300*300mm;2-40 GHz:最小尺寸100*100mm。(即不需要1-2GHz这段就可以按照100*100mm准备)样品尺寸可以大,不可以小,要求样品表面平整,不能有弯曲。厚度小于10cm;

谐振腔模式:只能测10GHz左右的单点,测不了频段,圆盘直径10-20mm,厚度2-5mm,薄膜尺寸是长宽30*50mm,厚度需自己测量准确(小于0.5mm)。样品尺寸务必严格,否则影响测试结果;


结果展示


电磁参数:

电磁参数.jpg


S参数:

S参数.jpg

吸波性能数据:

1.jpg

射率:

2.jpg


常见问题
样品的实部和虚部出现负数?

电磁参数中,复介电常数的实部不可能是负数,除非是超材料,建议换个模式测一下,换传输反射法测试,一般情况下有网络分析仪四种测试模式;有的适合测电损耗材料,有的适合测磁性材料;

复磁导率虚部u”一般比较小,甚至出现负值,但是不会一直都是负值,只是某个区域是负值。之所以比较小,是因为样品是导电材料,而不具有磁性,或者具有很少量的磁性。


不同模式的区别?

同轴模式:适用于粉末样品,按一定浓度和石蜡混合作成同轴环,可直接得到电磁参数(复介电常数和复磁导率)和S参数,进一步可以计算模拟不同厚度的反射率(反射损耗)。同轴频率范围一般是2到18GHz;

波导模式:适用于树脂和复材,样品尺寸要求高,需要按频段做成不同的矩形样块,可直接得到电磁参数(复介电常数和复磁导率)和S参数,进一步可以计算模拟不同厚度的反射率。此模式是分频段,分为8.2到12.4GHz,12.4到18GHz,18到26.5GHz,26.5到40GHz;

弓形模式:适用于实际应用的板材,可直接得到平板反射率,结果没有S参数和电磁参数。测试时分频段,共有2套天线喇叭,一套是全频段的1到18GHz,一套是分频段的2到4GHz,4到8GHz,8到18GHz,18到26.5GHz,26.5到40GHz;


介电常数,介电损耗,介电损耗角,磁导率,磁损耗以及磁损耗角,这六个参数使用什么仪器可以测得?

复介电常数的实部与虚部分别为介电常数和介电损耗,磁导率的实部与虚部分别为复磁导率与磁损耗,虚部/实部分别为介电损耗角和磁损耗角。

同轴和波导均可以得到,但同轴法最好;这几个数据一般是看材料的吸波性能的,最好为粉体;波导模式也可以,但一般此模式是用来看屏蔽的,也就是S参数,吸波数据不太准确;客户提供粉体样品及粉末与石蜡制样的比例即可。


矢量网络分析仪测试的频率范围,能否测试1.5GHz以下的?

测试频率范围为2-18GHz,可以导出1-18GHz的数据,但1-2GHz部分的数据不稳定,仅供参考;



每个模式可以得到什么数据?

同轴模式:适用于粉末样品,按一定浓度和石蜡混合作成同轴环,可直接得到电磁参数(复介电常数和复磁导率)和S参数,进一步可以计算模拟不同厚度的反射率(反射损耗)。同轴频率范围一般是2-18GHz;

波导模式:适用于树脂和复材,样品尺寸要求高,需要按频段做成不同的矩形样块,可直接得到电磁参数和S参数。可测试频段为8.2-12.4GHz,12.4-18GHz,18-26.5GHz,26.5-40GHz;

弓形法:测试得到的数据为反射率,测试角度范围8-75°,可测试频段为2-4GHZ,4-8 GHZ,8-18 GHZ,18-26.5 GHZ,26.5-40 GHZ,1-18 GHZ。

自由空间法:测试得到的数据为透射率。可测试频段为1-18 GHZ,18-26.5 GHZ,26.5-40 GHZ。

谐振腔模式:可以得到10GHZ的复介电常数。


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