扫描电镜(SEM)常见问题
2022-09-09 16:36:34 0 568
答:根据不同类型的气凝胶,参考粉末样品制备方法,注意的是优选液体导电胶固定样品。
答:液氮脆断法主要用于高分子材料断面观察,高分子材料有一定的韧性,直接剪短,断面就不够清晰,但放入液氮中,可以实现脆性断裂。其实在测试中,有一些细柱状的样品,比如螺钉,用液氮辅助淬断也有很好效果。
磁性粉末用蔡司场发射电镜可以不用消磁,参照常规粉末样品制备。若是一些块状的强磁性材料可以通过加热或者外加个磁场来进行消磁,市场有专门的消磁器。
问题四、在拍摄部分样品sem图片中能看到明显的电子束黑斑,这如何去除界面里的电子束斑呢?
答:电子束黑斑有可能是样品比较脏,发生了积碳,建议制好的样品注意保存环境或者及时测试。
答:若拍照参数设置相近的话,效果不会有太大不同;只有不同仪器在拍摄时,参数(探头、电压、束流等)设置不同,具体哪些参数的影响,需要针对拍摄结果来分析。
答:如果只考虑电压的话,电压越高,分辨率和信噪比就会更好,更清晰;你说的电压小,图像越清晰,应该是针对有表面细节结构的样品,在较低电压下,可以看到样品的表面细节,高电压下,作用区比较深。看不到细节。
答:镀膜颗粒度受靶材、样品和镀膜仪(真空度、工作原理等)的影响,对于Au靶材的话,一般放大倍数在几万倍下就可以看到的。
答:Au,Pt,Cr等金属靶材,可以增加导电性,增加二次电子和背散射电子的产生,有较好的信噪比,也可以减少电子束的穿透,目的是获取较高质量的图像。
C靶材,适用于EDS、EBSD、WDS等成分的分析。
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