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块体样-场发射透射电镜(TEM)

项目介绍
样品要求
结果展示

块体样-场发射透射电镜(TEM)

满意度: 100%

仪器型号:

日本-JEOL-JEM-F200,日本-JEOL-JEM-2100F,美国-Thermo Fisher-Tecnai G2 F30,美国-FEI-Tecnai G2 F20,美国-FEI-Talos F200X G2

日本-JEOL-JEM-F200,日本-JEOL-JEM-2100F,美国-Thermo Fisher-Tecnai G2 F30,美国-FEI-Tecnai G2 F20,美国-FEI-Talos F200X G2

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平均3.6-7.9个工作日

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云现场/现场-场发射透射电镜(TEM)

已下单22492| 满意度98%

平均周期10.0个工作日

云现场/现场-场发射透射电镜(TEM)

项目简介:1.样品要求:粉体需5mg左右,需要是纳米级颗粒,粒径较大的可提前研磨寄送;液体1ml以上,如是分散的液体,尽量浓度稍大一些,测试老师可以根据实际情况稀释拍摄;(浓度有特殊要求请备注); 2.特别注意:正常测试电压:200kv;常规用普通碳膜制样,超小颗粒使用超薄碳膜;拍能谱且样品中含铜时,可选择镍网微栅或钼网微栅; 3.若样品有磁性(含铁/钴/镍/锰元素),务必备注清楚;若隐瞒样品实际信息,导致设备损坏,需承担全部赔偿责任;由于形貌类测试的特殊性,请尽量提供相关参考图片或文字说明;测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄,但无法保证一定拍到理想形貌,敬请理解;如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问; 4,强磁样品要求颗粒大小不超过200nm,且不接受自己制样;强磁样品拍摄时会出现不同程度的抖动,会影响拍摄效果以及周期;因磁性抖动导致的效果不佳,不安排复测; 5. 如果需要特殊条件制样或者样品需要特殊条件保存,请提前联系您的技术顾问确认;

粉末/液体-场发射透射电镜(TEM)

已下单60496| 满意度99%

平均周期7.0个工作日

粉末/液体-场发射透射电镜(TEM)

注意:首次下单建议先联系技术顾问,沟通拍摄要求后再下单项目简介:1.样品要求:粉体需5mg左右,需要是纳米级颗粒,粒径较大的可提前研磨寄送;液体1ml以上,如是分散的液体,尽量浓度稍大一些,测试老师可以根据实际情况稀释拍摄;(浓度有特殊要求请备注); 2.特别注意:正常测试电压:200kv;常规用普通碳膜制样,超小颗粒使用超薄碳膜;拍能谱且样品中含铜时,可选择镍网微栅或钼网微栅; 3.若样品有磁性(含铁/钴/镍/锰元素),务必备注清楚;若隐瞒样品实际信息,导致设备损坏,需承担全部赔偿责任;由于形貌类测试的特殊性,请尽量提供相关参考图片或文字说明;测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄,但无法保证一定拍到理想形貌,敬请理解;如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问; 4,强磁样品要求颗粒大小不超过200nm,且不接受自己制样;强磁样品拍摄时会出现不同程度的抖动,会影响拍摄效果以及周期;因磁性抖动导致的效果不佳,不安排复测; 如果需要特殊条件制样或者样品需要特殊条件保存,请提前联系您的技术顾问确认;

TEM制样-聚焦离子束(FIB)制样

已下单2323| 满意度100%

平均周期15.0个工作日

TEM制样-聚焦离子束(FIB)制样

用途及功能:1.定点剖面形貌和成分表征2.TEM样品制备3.微纳结构加工4.切片式三维重构5.三维原子探针样品制备适用领域:结构分析、材料表征、三维重构、材料转移等,该系统可适用于横截面和断层扫描,3D分析,TEM样品制备及纳米图形加工;

TEM制样-离子减薄

已下单1425| 满意度97%

平均周期15.0个工作日

TEM制样-离子减薄

用于TEM样品制备应用范围:适用于陶瓷、半导体、合金及薄膜截面样品离子束减薄。适用于合金样品表面氧化膜去除。运用该仪器制备的样品中间的薄区可用于透射电镜观测

项目介绍

样品要求

结果展示

论文致谢
  • 何**

    济南大学

    ADVANCED ENERGY MATERIALS

    原文链接  Ultrathin and Porous Ni3S2/CoNi2S4 3D-Network Structure for Superhigh Energy Density Asymmetric Supercapacitors

    影响因子:29.368

    现金奖励:566.00

    申请时间:2020-04-08 16:13:35

  • 陈**

    中南大学

    Electrochimica Acta

    原文链接  Carbon aerogels with nickel@N-doped carbon core-shell nanoclusters as electrochemical sensors for simultaneous determination of hydroquinone and catechol

    影响因子:6.901

    现金奖励:366.00

    申请时间:2022-06-27 17:14:04

  • 吴**

    西安交通大学

    Journal of Colloid and Interface Science

    原文链接  Restriction of voltage decay by limiting low-voltage reduction in Li-rich oxide materials

    影响因子:8.128

    现金奖励:366.00

    申请时间:2022-06-27 17:34:24

  • 李**

    西南大学

    Separation and Purification Technology

    原文链接  Well-designed MXene-derived Carbon-doped TiO 2 coupled porous g-C 3 N 4 to enhance the degradation of ciprofloxacin hydrochloride under visible light ir- radiation

    影响因子:7.312

    现金奖励:366.00

    申请时间:2022-06-28 17:38:09

预约须知

1. 样品要求:块体样品,通过离子减薄、FIB、电解双喷等方式制样后进行测试;请务必确认样品已制备达到TEM测试要求;

2.电解双喷,离子减薄制备的样品邮寄过程中容易发生损坏,此测试仅对收到的样品负责,如因样品问题导致没有得到满意的结果,请自行负责;

3.对于一般有机类块体样品不适合做高分辨以及EDS,请慎重选择这两类项目;

4.如果需要调带轴的电子衍射请务必进行勾选;

5如有其他疑问,请联系技术顾问确认;




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项目介绍

项目简介:

1. 样品要求:块体样品,通过离子减薄、FIB、电解双喷等方式制样后进行测试;请务必确认样品已制备达到TEM测试要求;

2.电解双喷,离子减薄制备的样品邮寄过程中容易发生损坏,此测试仅对收到的样品负责,如因样品问题导致没有得到满意的结果,请自行负责;

3.对于一般有机类块体样品不适合做高分辨以及EDS,请慎重选择这两类项目;

4.如果需要调带轴的电子衍射请务必进行勾选;

5. 如有其他疑问,请联系技术顾问确认;


样品要求

样品要求

1. 样品状态

 

通过离子减薄,FIB或者超薄切片后处理过的薄膜或者块体样品,如果是其他制样方式请提前说明并确认。

 

2. 样品成分要求

 

该说明仅针对一般无机材料类样品,生物类样品与无机材料类完全不同。一般对测试样品有如下几方面的要求:

 

安全性:无毒、无放射性;

 

是否含有有机物:有机物在高压下不稳定,拍摄过程中极易被打散,样品被打散的同时会污染到仪器,如需拍摄,请务必与工作人员确认。含有有机物的样品一般不能进行mapping表征,请慎选此选项

 

磁性:磁性材料可能被吸到镜头上影响TEM分辨率,会污染电镜,原则上电镜(SEMTEM)不拍磁性样品。但是不同的设备,测试老师不同的样品处理经验状况下,对所拍样品中磁性强弱的接受度不同,所以在预约时候请大家务必如实填写样品是否含磁及磁性的强弱。为方便区分样品是否有磁性及磁性强弱,我们按如下方法对磁性样品进行定义:

 

1.含铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、钆(Gd)等铁磁性元素的氧化物、金属、尖晶石等;

2.钕铁硼(NdFeB/钐钴(SmCo)等稀土永磁材料;

3.钐(Sm)、镨(Pr)、钕(Nd)、镝(Dy)、铽(Tb)等稀土元素的磁性助剂

 

强磁:磁铁能吸起来的样品。

 

弱磁:磁铁吸不起来但是按前述定义为磁性的样品。

 


结果展示

高分辨:

image.png

电子衍射:

image.png


Mapping

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