块体样-场发射透射电镜（TEM）一e测试

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块体样-场发射透射电镜（TEM）

满意度： 100%

仪器型号：

日本-JEOL-JEM 2100Plus，美国-FEI-Talos F200S，JEM2100F，日本JEOL,JEM-2100F，Talos F200X，Thermo Fisher Talos-20等

预约次数：

2149次

服务周期：

平均8.0个工作日

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项目介绍

样品要求

结果展示

预约须知

1. 样品要求：块体样品，通过离子减薄、FIB、电解双喷等方式制样后进行测试；请务必确认样品已制备达到TEM测试要求；

2.电解双喷，离子减薄制备的样品邮寄过程中容易发生损坏，此测试仅对收到的样品负责，如因样品问题导致没有得到满意的结果，请自行负责；

3.对于一般有机类块体样品不适合做高分辨以及EDS，请慎重选择这两类项目；

4.如果需要调带轴的电子衍射请务必进行勾选；

5. 如有其他疑问，请联系技术顾问确认；

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项目介绍

项目简介:

1. 样品要求：块体样品，通过离子减薄、FIB、电解双喷等方式制样后进行测试；请务必确认样品已制备达到TEM测试要求；

2.电解双喷，离子减薄制备的样品邮寄过程中容易发生损坏，此测试仅对收到的样品负责，如因样品问题导致没有得到满意的结果，请自行负责；

3.对于一般有机类块体样品不适合做高分辨以及EDS，请慎重选择这两类项目；

4.如果需要调带轴的电子衍射请务必进行勾选；

5. 如有其他疑问，请联系技术顾问确认；

样品要求

样品要求：

1. 样品状态

通过离子减薄，FIB或者超薄切片后处理过的薄膜或者块体样品，如果是其他制样方式请提前说明并确认。

2. 样品成分要求

该说明仅针对一般无机材料类样品，生物类样品与无机材料类完全不同。一般对测试样品有如下几方面的要求：

安全性：无毒、无放射性；

是否含有有机物：有机物在高压下不稳定，拍摄过程中极易被打散，样品被打散的同时会污染到仪器，如需拍摄，请务必与工作人员确认。含有有机物的样品一般不能进行mapping表征，请慎选此选项；

磁性：磁性材料可能被吸到镜头上影响TEM分辨率,会污染电镜，原则上电镜（SEM和TEM）不拍磁性样品。但是不同的设备，测试老师不同的样品处理经验状况下，对所拍样品中磁性强弱的接受度不同，所以在预约时候请大家务必如实填写样品是否含磁及磁性的强弱。为方便区分样品是否有磁性及磁性强弱，我们按如下方法对磁性样品进行定义：

1.含铁（Fe）、钴（Co）、镍（Ni）、钆（Gd）等铁磁性元素的氧化物、金属、尖晶石等；

2.钕铁硼（NdFeB）/钐钴（SmCo）等稀土永磁材料；

3.钐（Sm）、镨（Pr）、钕（Nd）、镝（Dy）、铽（Tb）等稀土元素的磁性助剂

强磁：磁铁能吸起来的样品。

弱磁：磁铁吸不起来但是按前述定义为磁性的样品。

结果展示