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变温紫外/可见/近红外光谱（UV/VIS/NIR）

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变温紫外/可见/近红外光谱（UV/VIS/NIR）

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日本-SHIMADZU-UV-3600 Plus，日本-Jasco-V-730

日本-SHIMADZU-UV-3600 Plus，日本-Jasco-V-730

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紫外可见近红外光谱仪，利用物质对光的选择性吸收、透射或反射的特性，从而测定、分析、推断物质的组成、含量及结构，测试200-2500nm的波数范围，配置积分球附件，可测试块体，薄膜和粉体；
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X射线光电子能谱（XPS）

1. X射线光电子能谱（XPS）可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱，也可刻蚀后采谱得到深层的信息；2. X射线光电子能谱（XPS）按元素个数收费（需要包含必测元素C，不能测试H、He元素）；一个元素默认测一个轨道，若测试多个轨道计为多个元素；一个样品默认一个测试位置，若测试多个位置计为多个位置；3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号；4. 测试默认单色化Al靶（AlKαsource），能量1486.68eV；
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当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关，每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。
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    扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。
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论文致谢

  • 陈**

    华东理工大学

    ACS applied materials & interfaces

    原文链接  Hydrogen-bond assembly of polyvinyl alcohol and polyhexamethylene guanidine for non-leaching and transparent antimicrobial films

    影响因子：8.0970

    现金奖励：366.00

    申请时间：2020-04-08 15:52:00

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1. 样品要求：粉末样品量要求100mg以上（尽量多点）；液体样品至少5ml，块体最好大于2*2cm；

2. 粉末、块体、薄膜的测试温度范围是：0-400℃；液体的测试温度范围是：0-100℃。

3. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；


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可研究样品随温度的变化的情况；

样品要求

样品要求：粉末样品量要求100mg以上（尽量多点）；液体样品至少5ml，块体最好大于2*2cm；

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常见问题
原位紫外可实现的原位条件有哪些？

仅支持变温紫外测试；

变温紫外测试需要注意哪些问题？

1、液体紫外在测试温度范围内不能有挥发，分解等；

2、样品在测试温度内不能与模具发生反应；

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