SEM-EDS直播课问题及答案
2022-12-23 14:39:50 0 740
扫描电子显微镜能谱仪(Scanning Electron Microscope Energy Dispersive System,简称SEM-EDS)通过将扫描电子显微镜(SEM)和能谱(EDS)组合在一起,是一种对药物或材料等成分进行分析的组合检测设备,即能观察样品的表面形貌又能对微区进行成分分析。SEM-EDS可以进行各种材料的形貌组织观察,材料断口分析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体、晶粒的相鉴定,晶粒尺寸,晶体、晶粒取向测量等。SEM-EDS已经成为形貌分析领域不可或缺的一种技术手段,广泛用于材料、化学、生物医学、地质等领域。
e测试于2022年12月22日推出SEM-EDS直播课,SEM结构和工作原理、影响图像分辨率的主要因素、SEM主要应用、EDS定义和工作原理、定性&定量分析、探测限和数据模式、SEM-EDS案例分析等内容进行讲解。我们将直播中的问题进行了收集,以下为问题及我们整理的答案。
Q1
金相样品是否需要腐蚀,不腐蚀不利于观察各个相的形貌,腐蚀样品是否影响能谱测试准确性?
答:金相样品肯定需要轻微腐蚀,或者通过FIB离子建设,不然很难看到很好的金相结构。当然腐蚀肯定不能腐蚀过,只能说轻微腐蚀,腐蚀太过肯定会影响能谱测试。
Q2
EDS分析的时候,物镜光阑越大越好吗?
答:不能这么说。如果样品是块体,区域比较大,不存在打到其他地方。镀层比较大,这个时候光阑大没关系。但如果镀层很薄,光阑大,速流就会大,涉及的范围就会大一些。所以,对EDS测试来说,不是光阑越大越好。
Q3
C、N、O元素能谱能分析到什么程度?
答:C、N、O元素的检测限可达到0.1%,H元素高于0.1%。
Q4
做表面元素分析,什么时候选AES,什么时候选EDS?
答:通常测试表面成分的有4种设备,分别为SEM-EDS、AES、TOF-SIMS、TEM-EDS。SEM-EDS打的比较深,属于无机物分析,样品需要导电。AES也是无机物分析,样品需要导电,但打的浅,样品表面几个纳米成分的可以选。TOF-SIMS有机无机都可以测试,并且样品导不导电都行,也是样品表面几个纳米成分。TEM-EDS与SEM-EDS一样,打的比较深,可制作薄片,分辨率更高。
Q5
导电性不好的粉未颗粒在加速电压5kV时进行拍摄,在进行放大倍数的增加时,会有小颗粒漂浮到大颗粒上面,怎么拍好?而且荷电效应影响也挺大的。
答:如果说会有小颗粒漂浮到大颗粒上面,说明两个问题,一荷电效应,二样品没备牢。既然都已经选择了5kv,那说明你不在乎是否对样品进行coating,如果不在乎的话,为什么不再镀厚点呢?样品没备牢,说明你样品太厚了,你试着再把样品制备的薄一点,或者尽量选薄的地方去拍图。
Q6
拍背散射电子工作距离选多大?
答:如果说想要更纯的BSE,建议选择wd 8以上。如果同时还想看形貌信息,这个时候wd尽量小点,3左右。
Q7
AES和XPS的区别是什么?
答:X光电子能谱法(XPS)是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。固体样品中除氢、氦之外的所有元素都可以进行XPS分析。俄歇电子能谱法(AES)的优点是在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高;数据分析速度快;能探测周期表上He以后的所有元素。
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