原子力显微镜（AFM）
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原子力显微镜（AFM）须知：
1. 样品要求：块体及薄膜样品，长宽小于1cm，高度不超过2mm；粉末/纤维样品质量不小于20mg；液体样品含量不少于1mL；（液体制样后测试，无法直接测试液态或含液体的样品）
2. 特别注意：块体及薄膜样品表面光滑，表面起伏不超过15μm；若扫描面积大于10μm×10μm，则需要具体沟通；形貌拍摄由于其特殊性，老师会尽力拍摄，但无法保证一定会拍到您预期效果的图片，敬请理解！
3. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；
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常见问题
问AFM粉末制样，基片选择有哪些？
AFM粉末制样时基片的选择有云母、高序热解石墨HOPG、单晶硅片、玻璃、石英等；一般要结合样品的亲疏水、表面化学特性等选择合适的基片，对于详细研究粉体尺寸、形状等特性，应尽量选取表面原子级平整的韵母、HOPG等作为基片；
问AFM测试模式有哪些？
表面形貌测试：可得到样品表面形貌（2D、3D）以及粗糙度和高度分布图;
导电性能测试(C-AFM)：同时得到形貌和电流分布图；也可以进行选区I-V曲线测试;
表面电势测试(AFM-SKPFM): 表面电荷的半定性表征，能直接测量探针和样品之间的电势差;
磁学性能测试(AFM-MFM)：微区磁畴的分布表征;
纳米力学测试(AFM-QNM)：力学图谱测量，可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量，得到微区的杨氏模量分布，适用于较软样品高级纳米力学成像模式，可对有机物，高分子以及金属材料进行扫描，同时得到形貌和模量分布;
压电力测量(AFM-PFM)：薄膜，陶瓷，晶体，纤维材料的表面铁电畴表征，极化反转和蝴蝶曲线测试，畴操纵;
问AFM拍摄范围一般时多大？
不像SEM、TEM或者金相那样，测试时规定倍数要求，AFM一般要告知扫描范围，常规是10*10nm到10*10μm；尺寸过小，分辨率可能达不到，尺寸过大，会增加扫描时间；
结果展示
表面形貌
