X射线多晶衍射(XRD)

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X射线多晶衍射(XRD)须知:

1.样品要求:粉末样品不少于30mg(样品需要提前研磨,颗粒较大将导致图谱峰形不完整或出现偏差);块体或薄膜在1×1cm到2.4×2.4cm,厚度小于1cm(至少有一个面是平整的)

2.  特别注意:测试是连续扫描;特殊尺寸请提前沟通,表面不平整、粒度大小可能会影响数据效果,测前请依据自己的测试目的进行确认;

3.  含Fe,Co,Mn,Ni元素请备注,弱磁性样品测试需要转动,样品需要越细越好(若为配合物形式存在,含量较低时可忽略);

4. 掠入射尺寸同常规块体要求,整体厚度不超过2mm,薄膜层尽量均匀;(请提供基底信息,若有常规测试谱图请提供)

5.如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问



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常见问题

  • 样品峰信号不好,测试时候有没有什么改善方法呢?

    建议只扫出峰位置,这样强度和峰形会较好一些;

  • XRD测试薄膜样品,对膜厚有什么要求呢?

    XRD常规模式要求膜厚必须均匀,有些薄膜不均匀,两边厚中间薄是会影响峰强度的;


  • XRD定量的准确度如何呢?

    XRD只能做半定量分析,定量结果只能参考,准确度不高;


  • XRD掠入射角度的选择?

    掠射角度建议越小越好,一般都是0-1°最好,例如0.5°,不建议2°或3°,这种基本不叫掠射,基底的信号也会比较明显;


  • 有荧光散射的样品测XRD,数据会受影响?是否可以改善?

    有荧光散射现象的样品,比如铁,铜靶测试铁含量较高的样品时,测试结果基线会比较高,这种情况是无法改善的;


结果展示


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