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飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

项目介绍
样品要求
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飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

满意度: 98%

仪器型号:

捷克-泰思肯-TESCAN GAIA3,IONTOF TOF-SIMS5,郑州云智企事业部专用,英国Kore SurfaceSeer-Ⅰ,德国-IONTOF-TOF SIMS 5,TOF.SIMS5-等

预约次数:

473次

服务周期:

平均8.7个工作日

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项目介绍

样品要求

结果展示

预约须知

1. 样品要求:粉体样品50mg;薄膜/块体样品长宽1*1cm左右大小,厚度不超过5mm,真空保存,标记清楚测试面和测试位置;

2. 请提供提供详细的测试要求,所需的测试数据,如有相关参考文献或参考图也请附上

3. 如有测试疑问,请联系前期对接的技术顾问

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项目介绍

TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段,具有质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等领域,可以提供EDX、AES、XPS等技术无法提供的元素信息。

样品要求

粉体样品50mg,需压片后测试;薄膜/块体样品长宽1*1cm左右大小,厚度不超过5mm,表面平整洁净,真空保存,标记清楚测试面;

结果展示

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