
球差矫正透射电子显微镜(球差TEM)
满意度: 100%

仪器型号:
美国-Thermo Fisher-Spectra 300 TEM,日本-JEOL-JEM-ARM200F NEO ARM,日本-JEOL-JEM-ARM300F GRAND ARM,美国-FEI-Titan Cubed Themis G2 300,日本-Hitachi-HF5000
美国-Thermo Fisher-Spectra 300 TEM,日本-JEOL-JEM-ARM200F NEO ARM,日本-JEOL-JEM-ARM300F GRAND ARM,美国-FEI-Titan Cubed Themis G2 300,日本-Hitachi-HF5000

预约次数:
3254次

服务周期:
平均3.0-7.9个工作日
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项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题

1. 样品要求:粉体需5mg左右;一般制样用微栅或者超薄碳膜;块体需要经过FIB、离子减薄等制样后方可上机测试;
2.所有的样品拍摄之前需要用高分辨TEM预观察,确保样品制备成功;
3. 特别注意: 目前是有仪器测试强磁样品,如有需要可以选择下单,但是必须要准备粉体样品或者块体原材进行预筛,筛样通过后方可预约测试;务必详细备注测试条件,可提供相关参考图片;测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄,但无法保证一定拍到理想形貌,敬请理解;
4. 此项目价格仅为参考,下单后会根据需求确认最终价格,计费方式分为按时间收费及按样品收费:按时间收费的计费方式是1小时起约,最低收费半小时,超过半小时按实际时间收费,不超半小时按半小时计费;按样品收费的以后期沟通的具体要求为准;因为eels的特殊性,如需下单eels请选择按时间计费选项,按样品收费不支持eels;所有球差从样品放入样品室开始计时,包含抽真空时间,如果需要等离子清洗,也需要计算在内;
5.球差云现场订单请务必在云现场时候核对好数据,如果有任何问题请在云现场时及时提出!!!!!!!
6.如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;
注意:我们只对您这次提供的样品进行负责,无法保证一定能得到您预期的结果,请大家理解!
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可做项目:TEM,STEM,EDS,SAED,EELS等
用途及功能:
形貌观察:对各种材料内部微结构进行显微形貌观察,可以观察到原子级别。包括常见的粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察;配合三维重构可以得到三维立体形貌;
结构分析:利用选区电子衍射、高分辨透射图像、高分辨扫描透射图像等分析材料的结构;
成分分析:配合能谱仪可以对样品元素做点、线、面分布分析,可以得到原子分辨率的元素面分布图像;

1、粉体需5mg左右;一般制样用微栅或者超薄碳膜;块体需要经过FIB、离子减薄等制样后方可上机测试;;
2、粉末样品建议用微栅或者超薄碳膜制样;
3、含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性;
4、所有的样品拍摄之前需要用高分辨TEM预观察,确保样品制备成功
5、可提供寄样,云视频测试服务。

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我们的球差电镜是配有能谱EDS和电子能量损失谱EELS附件的;
EDS和EELS均可用来做轻元素分析,但EELS更灵敏且统计性较好;EDS更适合做重元素分析,因为其峰背比高,元素容易辨认;相比之下,EELS在重元素分析时常常受限于EELS峰型,峰背比和信噪比的影响致元素难以辨识;

400-005-5990
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