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原子力显微镜(AFM)--特殊模式
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项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题

1. 样品要求:块体及薄膜样品,长宽小于30mm,厚度不超过10mm(请务必标记好测试面);粉末样品不少于20mg(需说明制样方法);液体样品不少于1mL(液体制样后测试,无法直接测试液态或含液体的样品,也需说明制样方法);
2. 特别注意:块体及薄膜样品需表面平整、起伏不超过5μm;形貌拍摄由于其特殊性,老师会尽力拍摄,但无法保证一定会拍到您预期效果的图片,敬请理解!
3. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;
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样品的表面形貌、厚度、粗糙度以相图测试,厚度、粗糙度需进一步处理数据得到,相图一般在Tapping模式下测试;

1. 样品状态:块体/薄膜、粉末、液体;
2. 块体/薄膜样品:长宽要求5-30mm,厚度要求1-10mm,表面粗糙度不超过5μm,请务必说明并标记测试面;
3. 粉末样品:至少提供20mg;务必说明制样条件(制样浓度、分散剂、是否超声以及超声时间);
4. 液体样品:至少提供1mL;务必说明制样条件(是否稀释以及稀释多少倍、分散剂、是否超声以及超声时间);

表面形貌


AFM粉末制样时基片的选择有云母、高序热解石墨HOPG、单晶硅片、玻璃、石英等;一般要结合样品的亲疏水、表面化学特性等选择合适的基片,对于详细研究粉体尺寸、形状等特性,应尽量选取表面原子级平整的韵母、HOPG等作为基片;

可得到样品表面形貌(2D、3D)以及粗糙度和厚度/高度;

不像SEM、TEM或者金相那样,测试时规定倍数要求,AFM一般要告知扫描范围,常规是1*1μm到10*10μm;范围过小,分辨率可能达不到,范围过大,可能可能测不出来较好的图像,而且会增加扫描时间;

400-005-5990