飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

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飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

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仪器型号:

IONTOF TOF-SIMS5,德国-IONTOF-TOF SIMS 5,捷克-泰思肯-TESCAN GAIA3等

预约次数:

207次

服务周期:

平均8.7个工作日

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预约须知

1. 样品要求:粉体样品50mg;薄膜/块体样品长宽1*1cm左右大小,厚度不超过5mm,真空保存,标记清楚测试面;

2. 请提供提供详细的测试要求,所需的测试数据,如有相关参考文献或参考图也请附上

3. 如有测试疑问,请联系前期对接的技术顾问

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