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飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)
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飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)
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仪器型号：
IONTOF TOF-SIMS5，德国-IONTOF-TOF SIMS 5，捷克-泰思肯-TESCAN GAIA3等
预约次数：
207次
服务周期：
平均8.7个工作日
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预约须知
1. 样品要求：粉体样品50mg；薄膜/块体样品长宽1*1cm左右大小，厚度不超过5mm，真空保存，标记清楚测试面；
2. 请提供提供详细的测试要求，所需的测试数据，如有相关参考文献或参考图也请附上；
3. 如有测试疑问，请联系前期对接的技术顾问；
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满意度： 98%
咨询热线
400-005-5990
