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首页 飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS) 预约详情

飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

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飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

满意度： 98%

仪器型号：

德国-IONTOF-TOF-SIMS M6，德国-IONTOF-TOF-SIMS 5

德国-IONTOF-TOF-SIMS M6，德国-IONTOF-TOF-SIMS 5

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论文致谢

  • 许**

    四川大学

    Energy & Environmental Science

    原文链接  Tailoring Multilayer Fine-Grained Solid Electrolyte Interphase by Pulse Electrochemical Activation Maneuver for Stable Si/C Anodes

    影响因子：30.8000

    现金奖励：500.00

    申请时间：2025-06-05 15:23:25

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1. 样品要求：薄膜/块体样品长宽1*1cm左右大小，厚度不超过5mm，真空保存，标记清楚测试面和测试位置；

2. 请提供提供详细的测试要求，所需的测试数据，如有相关参考文献或参考图也请附上；

3. 如有测试疑问，请联系前期对接的技术顾问；

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项目介绍

TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段，具有质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等领域，可以提供EDX、AES、XPS等技术无法提供的元素信息。

样品要求

粉体样品需压片后测试；薄膜/块体样品长宽1*1cm左右大小，厚度不超过5mm，表面平整洁净，真空保存，标记清楚测试面；

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