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XPS测试--限时特惠

16030次预约 100%满意度 5.9个工作日完成

XPS测试--限时特惠须知:

1.  样品要求:块状和薄膜样品,长宽小于10mm,厚度小于3mm(最佳尺寸小于5×5×2mm,大尺寸样品请联系技术顾问确认;岛津设备最好长宽在5mm内),刻蚀的样品尺寸尽量做5-10mm的方块,请务必标记好测试面;粉末样品,不少于10mg;液体样品需制好样再测试,请自行制样后再寄送;

2. 特别注意:此次项目要求样品要充分干燥,易吸湿样品请提前说明;无法测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发的材料;块体/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样,接触空气容易受C,N,O,Si等元素污染,测试结果可能会有误差;样品是用胶带固定到样品台上,回收的样品会有污染或损坏/损失,不建议回收样品!测试默认Al靶岛津设备做不了刻蚀;

3. 此项目按元素个数收费(需要包含必测元素C);一个元素测试多个轨道,计为多个元素;一个样品默认一个测试位置;含量小于5%的元素可能测不出明显信号,请知悉!

4. 请根据需要选择数据格式:赛默飞设备默认VGD/VGP格式(软件Avantage),岛津设备默认VMS格式(软件CasaXPS);

5. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问


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常见问题

  • XPS测试,谱图如何校正、定标?

    一般是以C-C峰284.6ev进行校正的,总谱、分谱是不同的测试方法,所有不是一起校正的,只校正分谱数据,总谱不用校正;价带谱VB是以刚出峰的位置为0进行校正的。



  • XPS半定量处理时,元素测试了不同轨道的谱图,定量以哪个为准?

    定量是以元素的特征轨道谱图为准,如果存在多个轨道,切忌重复计算;若不同元素间轨道有重合,一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。


结果展示

高分辨+分峰拟合图(需要数据分析):

image.png

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