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X射线光电子能谱(XPS)--热门

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X射线光电子能谱(XPS)--热门须知:

1. 样品要求:块状和薄膜样品,长宽小于10mm,高度小于3mm(最佳尺寸小于5×5×2mm); 粉末样品,不少于10mg;刻蚀的样品尺寸尽量做5-10mm的方块

2. 特别注意:无法测试含氟单质材料及磁性块状材料;样品表面请用乙醇擦拭干净并抽真空来样,样品接触空气容易受C,N,O,Si等元素污染,测试结果可能会有误差,请悉知!测试默认Al靶,如需Mg靶请联系技术顾问;

3. 此项目不做刻蚀,可测试磁性粉末,且不加收磁性费;价带谱不加收费用;测试按元素个数收费(包含C元素);含量小于5%的元素可能测不出明显信号,请知悉!

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常见问题

  • XPS测试,谱图如何校正、定标?

    一般是以C-C峰284.6ev进行校正的,总谱、分谱是不同的测试方法,所有不是一起校正的,只校正分谱数据,总谱不用校正;价带谱VB是以刚出峰的位置为0进行校正的。



  • XPS半定量处理时,元素测试了不同轨道的谱图,定量以哪个为准?

    定量是以元素的特征轨道谱图为准,如果存在多个轨道,切忌重复计算;若不同元素间轨道有重合,一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。


结果展示

高分辨+分峰拟合图:

image.png

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须知:

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