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X射线光电子能谱（XPS）

满意度： 100%

仪器型号：

美国-Thermo Fisher-K-Alpha，美国-Thermo Fisher-ESCALAB 250Xi，美国-Thermo Fisher-ESCALAB Xi+，美国-Thermo Fisher-Nexsa，日本-SHIMADZU-AXIS Supra+

预约次数：

151859次

服务周期：

平均2.0-4.2个工作日

测试收费：

￥54.00起￥90.00

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项目介绍

样品要求

结果展示

常见问题

论文致谢

王**

华中科技大学

Energe Storage Materials

原文链接 “Preferential Adsorption-Decomposition and Strong Binding” Strategy Derived Interphase Enabling Fast-Charging and Wide-Temperature Sodium Metal Batteries

影响因子：20.4

现金奖励：500.00

申请时间：2024-12-06 19:44:35
张**

中科院长春应化所

Advanced Energy Materials

原文链接 Ru-MnO Heterostructure Clusters Toward Efficient and CO-Tolerant Alkaline Hydrogen Oxidation Reaction

影响因子：27.8

现金奖励：500.00

申请时间：2024-11-10 10:25:07
张**

广东工业大学

Applied Catalysis B-Environment and Energy

原文链接 Fe/Cu diatomic sites dispersed on nitrogen-doped mesoporous carbon for the boosted oxygen reduction reaction in Mg-air and Zn-air batteries

影响因子：22.1

现金奖励：500.00

申请时间：2024-08-07 14:46:54
王**

福建师范大学

Advanced Functional Materials

原文链接 Coral Polyp and Spine Dual-Inspired Gradient Hierarchical Architecture for Ultrahigh-Rate and Long-Life Sodium Storage

影响因子：19.0

现金奖励：500.00

申请时间：2024-03-25 14:13:29

预约须知

1. 样品要求：块状和薄膜样品，长宽小于10mm，厚度小于3mm(最佳尺寸小于5×5×2mm，大尺寸样品请联系技术顾问确认；岛津设备最好长宽在5mm内)，刻蚀的样品尺寸尽量做5-10mm的方块，请务必标记清楚测试面（建议不测面打x，或者测试面打✓）；粉末样品，不少于10mg；液体样品需自行制好样干燥后再寄送；

2. 特别注意：此次项目要求样品要充分干燥，易吸湿样品请提前说明；无法测试含F、Cl、Br、I、P、S、Hg单质等易挥发成分的材料；块体/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样，接触空气容易受C，N，O，Si等元素污染，测试结果可能会有误差；样品是用胶带固定到样品台上，回收的样品会有污染或损坏/损失，不建议回收样品！测试默认Al靶；岛津设备做不了刻蚀；

3. 此项目按元素个数收费（需要包含必测元素C，不能测试H、He元素）；一个元素测试多个轨道，计为多个元素；一个样品默认一个测试位置；含量小于5%的元素可能测不出明显信号，请知悉！

4. 请务必写清楚测试元素！

5. 请根据需要选择数据格式：赛默飞设备默认VGD/VGP格式（软件Avantage）,岛津设备默认VMS格式（软件CasaXPS）,PHI设备默认SPE格式（MultiPak）；

6. 如有其他疑问，请联系前期对接的技术顾问；

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项目介绍

1. X射线光电子能谱（XPS）可测试全谱、精细谱、俄歇谱、价带谱，也可刻蚀后采谱得到深层的信息；

2. X射线光电子能谱（XPS）按元素个数收费（需要包含必测元素C，不能测试H、He元素）；一个元素默认测一个轨道，若测试多个轨道计为多个元素；一个样品默认一个测试位置，若测试多个位置计为多个位置；

3. XPS定量为半定量数据。原子百分含量小于5%的元素可能测不出明显信号；

4. 测试默认单色化Al靶（Al Kα source），能量1486.68eV；

样品要求

1. 样品状态：要求块状、薄膜、粉末样品；

2. 粉末样品：至少10mg；

3. 块状/薄膜样品：尺寸小于10*10*3mm，最佳尺寸小于5*5*2mm；需标记清楚测试面（建议不测面打x，或者测试面打✓）；

4. 注意：①液体样品需制好样干燥后再寄送；

②易氧化的样品建议手套箱制样，也请抽真空后送样；

③XPS是高真空环境测试的，所以要求样品要充分干燥，易吸湿样品请提前说明；

④不能测试含硫、氟、氯、溴、碘单质等易挥发成分的样品；

⑤样品含有放射性元素请提前说明；

⑥块状/薄膜样品表面请用乙醇擦拭干净或抽真空来样，接触空气容易受C、N、O、Si等元素污染，测试结果可能会有误差；

⑦样品是用胶带固定到样品台上，回收的样品会有污染或损坏/损失，不建议回收样品！

结果展示

高分辨+分峰拟合图（需要数据分析）：

常见问题

XPS测试，谱图如何校正、定标？

一般是以C-C峰284.8ev进行校正的，总谱、分谱是不同的测试方法，所有不是一起校正的，只校正分谱数据，总谱不用校正。

XPS半定量处理时，元素测试了不同轨道的谱图，定量以哪个为准？

定量是以元素的特征轨道谱图为准，如果存在多个轨道，切忌重复计算；若不同元素间轨道有重合，一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。

XPS刻蚀深度是准确的吗？

XPS不具备测试深度的功能，无法确定具体的刻蚀深度；调节刻蚀能量和面积后得到的刻蚀速率是按照Ta2O5来参考的，实际的刻蚀速率会因为样品实际情况而变化。

比如我可以按照Ta2O5的速率刻蚀10nm，但是具体样品刻蚀的深度未知，最终可能比10nm深，也可能比10nm浅。

XPS测试常见误差来源有哪些？

1、样品本身污染，在样品制备、保存或者测试过程中被空气或周围样品污染；

2、样品不均匀，因为测试区域仅几百微米，测试深度仅几个纳米，不同位置结果差别可能比较大；

3、是半定量结果，和元素实际含量会有出入。XPS是表面分析技术，测试的是表面几个纳米深度的信息，不代表整个样品。

咨询热线

400-005-5990