球差场发射透射电镜(球差TEM)

球差场发射透射电镜(球差TEM)
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仪器型号:
FEI,FEI Titan Cubed Themis G2,JEOL-NEOARM-200,Thermo Scientific Themis Z,TITAN themis Z,日本-日本电子-JEM-等

预约次数:
510次

服务周期:
平均12.0个工作日
项目介绍
样品要求
结果展示
常见问题

1. 样品要求:粉体需5mg左右;一般制样用微栅或者超薄碳膜;块体需要经过FIB、离子减薄等制样后方可上机测试;
2.所有的样品拍摄之前需要用高分辨TEM预观察,确保样品制备成功;
3. 特别注意: 无法测试磁性材料;若样品有磁性元素,必须要准备粉体样品或者块体原材进行预筛,筛样通过后方可预约测试;务必详细备注测试条件,可提供相关参考图片;测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄,但无法保证一定拍到理想形貌,敬请理解;
3. 此项目价格仅为参考,下单后会根据需求确认最终价格(按时间收费的已实际时间为准,按样品收费的以后期沟通的具体要求为准);
4.因为eels的特殊性,如需下单eels请选择按时间计费选项,按样品收费不支持eels
4. 如有其他疑问,请联系前期对接的技术顾问;
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可做项目:TEM,STEM,EDS,SAED,EELS等
用途及功能:
形貌观察:对各种材料内部微结构进行显微形貌观察,可以观察到原子级别。包括常见的粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察;配合三维重构可以得到三维立体形貌;
结构分析:利用选区电子衍射、高分辨透射图像、高分辨扫描透射图像等分析材料的结构;
成分分析:配合能谱仪可以对样品元素做点、线、面分布分析,可以得到原子分辨率的元素面分布图像;

1、粉体需5mg左右;一般制样用微栅或者超薄碳膜;块体需要经过FIB、离子减薄等制样后方可上机测试;;
2、粉末样品建议用微栅或者超薄碳膜制样;
3、含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性;
4、所有的样品拍摄之前需要用高分辨TEM预观察,确保样品制备成功
5、可提供寄样,云视频测试服务。

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我们的球差电镜是配有能谱EDS和电子能量损失谱EELS附件的;
EDS和EELS均可用来做轻元素分析,但EELS更灵敏且统计性较好;EDS更适合做重元素分析,因为其峰背比高,元素容易辨认;相比之下,EELS在重元素分析时常常受限于EELS峰型,峰背比和信噪比的影响致元素难以辨识;
满意度: 100%

400-005-5990